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表面分析の基礎と応用

  • 日時:2017/08/25(金)  13:00~16:00
  • セミナー番号:R170825
  • 主催:R&D支援センター
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本セミナーの趣旨  表面分析手法は、今や研究開発の場だけでなく、一般の工業製品の生産性や歩留りを向上するために、広く世界中の工場でも活用されています。例えばその具体的な例としては、表面汚染・変色の防止に始まり、表面粗さ・変形・歪みの制御や、電気伝導度や腐食・防食の性能の制御など、多種多様な目的で品質保証の分野で広く利用されています。
 本セミナーでは、走査型電子顕微鏡(SEM), 電子線マイクロアナライザー(EPMA), オージェ電子分光装置(AES), X線光電子分光装置(XPS)などの各分析装置の原理や特徴を基礎から説明し、具体的な活用事例や分析事例を使ってわかりやすく解説いたします。
プログラム

1.表面分析とは
 1-1. 表面の定義
 1-2. 表面分析の重要性
 1-3. 各SEM, EPMA, AES, XPSなどの表面分析装置の分析領域とその目的

2.走査型電子顕微鏡(SEM)
 2-1. SEMの原理と特徴
 2-2. SEMで得られる情報と分析深さ
 2-3. エネルギー分散型X線検出器(EDS)の特徴
 2-4. SEMで得られる分析結果(定性分析, 定量分析, 面分析など)
 2-5. 応用分析事例

3.電子線マイクロアナライザー(EPMA)
 3-1. EPMAの原理と特徴
 3-2. EPMAで得られる情報と分析深さ
 3-3. 波長分散型X線検出器(WDS)の特徴
 3-4. EPMAで得られる分析結果(定性分析, 定量分析, 面分析など)
 3-5. 応用分析事例

4.オージェ電子分光装置(AES)
 4-1. AESの原理と特徴
 4-2. AESで得られる情報と分析深さ
 4-3. AESで用いられる電子分光器の特徴
 4-4. AESで得られる分析結果(定性分析, 定量分析, 面分析など)
 4-5. 応用分析事例

5.X線光電子分光装置(XPS)
 5-1. XPSの原理と特徴
 5-2. XPSで得られる情報と分析深さ
 5-3. XPSで用いられる電子分光器の特徴
 5-4. XPSで得られる分析結果(定性分析, 定量分析, 面分析など)
 5-5. 応用分析事例

6.まとめ

 【質疑応答・名刺交換】

受講対象者工業製品の製造業務に携わっている2~3年目の技術者やその歩留り等を管理をする人。
表面に関する分析・解析業務に携わっている2~3年目の方。

※特に予備知識は必要ありません。基礎から解説いたします。ただ原子・分子といった言葉や、元素記号・周期表などを使って講演しますので、中学や高校程度の化学の知識があることが望ましい。
学べる事一般の工業製品で、いかに表面分析が重要で、またその制御が必要なのかを理解することができる。またSEM, EPMA, AES, XPSなどの表面分析装置に関する基礎を習得でき、必要な時にどの装置で分析すれば適切なのかを選択できるようになる。
講 師堤 建一 氏
日本電子(株)ブランドコミュニケーション本部
       ソーシャルメディア推進室 主査
【専門】表面分析, オージェ電子分光, X線光電子分光
会場商工情報センター(カメリアプラザ) 9F 第2研修室 東京都江東区亀戸2-19-1

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受講料
(税込)
非会員:49,980円 案内会員:1名47,250円,2名49,980円
学校関係者:10,800円
※資料付
※案内会員(無料)登録していただいた場合、通常1名様49,980円から
 ★1名で申込の場合、47,250円へ割引になります。
 ★2名同時申込で両名様とも会員登録された場合、計49,980円(2人目無料)で
  す。
※学校関係者価格は、企業に在籍されている研究員の方には適用されません。
備考①定員:30名
    ※ 現在、お申込み可能です。
    満席になり次第、募集を終了させていただきます。
備考②本セミナーの事務処理・受講券の発送等はR&D支援センターが行います。
申込み方法申込み方法、キャンセル等を以下ボタンから確認の上お申込みください。
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