S&T出版株式会社セミナー情報サイト
セミナー情報

赤外線・テラヘルツセンサの基礎と応用

フォームからお申し込み 申込みPDFダウンロード
プログラム

1. 赤外線・テラヘルツとは
 1) 電磁波の世界
 2) 赤外線・テラヘルツの分類
 3) 赤外線とテラヘルツ波の性質と特徴

2. 光・電波および赤外線・テラヘルツの研究の歴史
 1) 光の研究のはじまり
 2) 光と電波、電磁気の波動
 3) 熱放射と光の量子論
 4) 赤外線の発見と赤外線からテラヘルツへ

3. マクスウェル方程式と電磁波の放射・検知
 1) マクスウェル方程式を読む
 2) 電磁界の波動の性質
 3) 電磁波の放射と検知
 4) 電界の強度と光子の密度の関係

4. 伝搬媒質との作用と赤外線・テラヘルツ材料
 1) 電磁波と媒質との相互作用
 2) 反射、透過、吸収、散乱と回折および消散
 3) 赤外線の減衰と大気の伝搬特性
 4) 赤外線透過材料
 5) テラヘルツ透過材料
 6) テラヘルツ帯の非線形光学材料

5. 熱放射と光源
 1) 物質による光子の吸収と放出
 2) 熱放射に関するキルヒホッフの法則-吸収率と放射率の関係
 3) プランクの法則と黒体放射,一般の物質の熱放射と放射率
 4) アインシュタインのA係数・B係数とキルヒホッフの法則
 5) 赤外線LED
 6) 赤外・テラヘルツ半導体量子カスケードレーザー
 7) フォトニックテラヘルツ光源,超短テラヘルツパルスの発生
 8) 電子デバイステラヘルツ光源,共鳴トンネルダイオード

6. 検出器と感度
 1) 赤外線・テラヘルツの検出
 2) 赤外線検出器の分類
 3) 量子型検出器と感度
 4) 熱型検出器と感度
 5) 電界検出器
 6) フェムト秒レーザーをプローブとする超短パルステラヘルツ波の検出

7. 検出器の雑音
 1) 雑音と分散、標準偏差
 2) スペクトル密度関数による雑音密度の導出
 3) ショット雑音
 4) 熱雑音、誘電損雑音および生成・再結合雑音
 5) 温度ゆらぎによる雑音、光子雑音およびf分の1雑音
 6) 量子型検出器の雑音
 7) 熱型検出器(ボロメータ)の雑音
 8) OPアンプ増幅器出力における雑音

8. 検出器の性能指標と評価
 1) 性能指標
 2) 検出器への入射光量の見積り方
 3) NEP(雑音等価電力)
 4) 検出能Dおよび比検出能D*
 5) 雑音等価放射照度(NEI)
 6) 雑音等価温度差(NETD)
 7) テラヘルツ検出器の性能評価法

9. 分光法
 1) プリズム分光法
 2) グレーティング分光法
 3) フーリエ分光法(FTIR)
 4) テラヘルツ時間領域分光法(THz-TDS)

10. 赤外線・テラヘルツ計測の方法
 1) 赤外線計測の方法
 2) 放射計測 温度計測(放射温度,色温度)
 3) 赤外カメラによる放射イメージング
 4) 分光+イメージング
 5) ハイパースペクトルイメージング(HSI)
 6) テラヘルツ計測の方法
 7) アクティブ計測 vs. パッシブ計測
 8) THz時間領域分光による透過測定と反射測定
 9) THzパルスイメージング,3次元CTイメージング
 10) TH-QCL+アレイ検出器によるアクティブイメージング
 11) パッシブイメージングーヘテロダイン検出と極低温高検出能検出器
 12) テラヘルツ近接場顕微イメージング

11. 赤外線計測の応用
 1) 建物・インフラの劣化診断
 2) 事故防止車載暗視カメラ
 3) スマートフォン用赤外線カメラ
 4) 3Dイメージングセンサー
 5) 衛星からの大規模災害監視
 6) 地球温暖化分子ガスの全地球モニター
 7) 運転者のアルコール検知
 8) 航空機搭載ハイパースペクトルイメージングによる広地域捜索
 9) HSIの医療検査応用(血管と酸素飽和度、癌)
 10) HSIによる毛髪の保湿度のモニター
 11) HSI添加剤中の混合物のモニター
 12) HSIによる食品の品質検査・選別
 13) HSIによる人のストレスの検知
 14) 赤外線天文観測-銀河系、大マゼラン星雲
 15) 防衛監視-赤外2波長カメラによる航空機検知

12. テラヘルツ計測の応用
 1) 計測・分光装置の性能標準
 2) 有機物質の成分分析-色素分子の異性体の識別
 3) 紙製品の性質の計測
 4) 0.2THzイメージングによる鞄の検査
 5) 0.25THzパッシブボディスキャナーと反射・放射イメージング
 6) 広視野大面積アクティブイメージング
 7) ベルトコンベア用テラヘルツスキャナー
 8) プラスチックの欠陥,厚みの検査
 9) 製造工程の薬品材料の検査
 10) 多層塗装膜の検査
 11) 金属面のポリマーコートの検査
 12) 美術絵画の絵の具の塗り具合の計測

受講対象者・赤外線計測の応用を考えられている方
・赤外線イメージング、分光計測をされている方
・赤外線センサの研究開発に携わっている方
・テラヘルツテクノロジーに興味を持っておられる方
・テラヘルツ計測について、基礎から学びたい方
・テラヘルツ計測の応用を検討されている方
学べる事・赤外線センサの測定データの考え方
・赤外線センサの性能評価の方法
・赤外線計測の応用分野
・テラヘルツ技術の基礎知識
・テラヘルツセンサの種類と性能
・テラヘルツセンシングが期待される分野
講 師廣本 宣久 氏
静岡大学 創造科学技術大学院 ナノビジョン工学専攻 教授
会場中央大学駿河台記念館 東京都千代田区神田駿河台3-11-5

MAP

受講料
(税込)
お1人様受講の場合46,000円(税別)/1名、1口でお申し込みの場合57,000円(税別)/1口
※ 本セミナーはEルメール案内価格の適用はございません。
※ 1口でのお申込みは1社3名まで受講でき、受講料が格安となります。

※ 1口でお申込みされる場合は、代表受講者を定めて下さい。 受講票発送等の連絡は代表受講者へ行ないます。申込時に参加者全員の氏名・所属が明記されていない場合、お席を用意できない場合があります。
※ 開催 7日前に受講票、会場地図、請求書を発送します。
備考①本セミナーの事務処理・受講券の発送等はトリケップスが行います。
申込み方法申込み方法、キャンセル等を以下ボタンから確認の上お申込みください。
>お申込み方法

フォームからのお申し込みはコチラ

申込みフォームを開く









お1人目の参加者情報

は必須項目です

企業名・団体名

お1人目の部署

お1人目の職位

お1人目の姓

お1人目の名

お1人目のEメールアドレス

お1人目の電話番号

お1人目のFAX番号

お1人目の郵便番号

お1人目のご住所

Eメール案内 (希望する方はEメール案内価格が適用されます)
※既に案内を受け取っている方も「希望する」を選択してください。
 希望する 希望しない

DM案内 
※既に案内を受け取っている方も「希望する」を選択してください。
 希望する 希望しない

案内希望内容 ※ご希望テーマ、分野をフリーワードで入力してください。

2人目を入力する場合はここをクリック
2人目の入力欄を閉じる

お2人目の参加者情報

お2人目の部署

お2人目の職位

お2人目の姓

お2人目の名

お2人目のEメールアドレス

お2人目の電話番号

お2人目のFAX番号

お2人目の郵便番号

お2人目のご住所

Eメール案内(希望する方はEメール案内価格が適用されます)
※既に案内を受け取っている方も「希望する」を選択してください。

 希望する 希望しない  

DM案内
※既に案内を受け取っている方も「希望する」を選択してください。

 希望する 希望しない  

案内希望内容 ※ご希望テーマ、分野をフリーワードで入力してください。

3人目を入力する場合はここをクリック
3人目の入力欄を閉じる

3人目の参加者情報

3人目の部署

3人目の職位

3人目の姓

3人目の名

3人目のEメールアドレス

3人目の電話番号

3人目のFAX番号

3人目の郵便番号

3人目のご住所

Eメール案内(希望する方はEメール案内価格が適用されます)
※既に案内を受け取っている方も「希望する」を選択してください。

 希望する 希望しない  

DM案内
※既に案内を受け取っている方も「希望する」を選択してください。

 希望する 希望しない  

案内希望内容 ※ご希望テーマ、分野をフリーワードで入力してください。

支払い方法
 銀行振り込み 当日現金

銀行振り込みの場合の支払予定日

請求書または受講券の送付先が、受講者と異なる場合は以下にご記入ください。
※2(3)名様同時申込でご指定が無い場合は、お1人目に請求書とお2(3)人目の受講券も合わせてお送りいたします。

備考

セミナー情報検索

Copyright © S&T出版|セミナーポータルサイト All Rights Reserved.
Powered by WordPress & BizVektor Theme by Vektor,Inc. technology.